
2D MATERIAL DETECTOR
-
AI 기반 소프트웨어 업그레이드: CNN 신경망 기계학습을 이용, 이물질과 2차원물질 구분, 적중률 강화
-
기계적 박리를 통해서 만들어진 2차원 물질을 자동으로 검출
-
광학현미경을 이용해서 검색하고 위치를 기록하기 위해서 허비하는 시간을 줄여줌.
-
새로운 반데르발스 결정의 2차원 소재 발굴 연구에 활용
Specification:
-
scan range: 5cm x 5cm maximum
-
Objective lens: 10x, 20x, 50x, all compatible
-
materials: graphene, hBN, TMDC, MXene, etc
-
including all 2d materials
-
substrate: SiO2/Si, glass,
-
detection speed: 1.3 sec/frame
-
scan speed: 0.5 um^2/sec.
-
accuracy: single layer (for graphene)
-
image format: jpg file
-
coordinate: recorded in file name




기계적 박리된 MoS2 : 6시간동안 스캔, (5x5 cm^2 SiO_2 (300nm)/Si substrate)
최근 업그레이드된 알고리즘으로 single layer graphene의 검출률 90%이상 Auto-focusing기능을 기반으로 drift 보정, 대면적 장시간(>10시간) 스캔 기능 5 cm × 5 cm 웨이퍼를 400 µm × 400 µm 면적으로 나누어 스캔할 경우, 125×125=15,625 frames, 1.38 sec/frame, 6시간 소요. (1만5천개의 이미지 중에서 10개 남짓 발견, 사람이 할 수 없는 일, 기계가 해드립니다.)




기계적 박리 2차원물질 검출기
